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SN74LVTH18502APM

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メーカー部品
SN74LVTH18502APM
メーカー
Texas Instruments
説明
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
カテゴリー
集積回路
家族
ロジック-特殊ロジック
在庫あり
18132
オンラインデータセット
-
  • シリーズ:74LVTH
  • パッケージ:Tray
  • 部品ステータス:Active
  • 論理型:ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
  • 供給電圧:2.7V ~ 3.6V
  • ビット数:18
  • 作動温度:-40°C ~ 85°C
  • 取付タイプ:Surface Mount
  • パッケージ/ケース:64-LQFP
  • サプライヤーデバイスパッケージ:64-LQFP (10x10)
運送 納期 在庫のある部品の場合、注文は3日で発送されると推定されます。
InFortuneは、日曜日を除く午後5時頃に1日1回注文を発送します。
発送後の配送予定時間は、以下の運送業者によって異なります。
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FedEx International Priority、3〜7営業日。
EMS、10〜15営業日。
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返品/保証 戻る 返品は通常、発送日から30日以内に完了すると受け付けられます。返品承認については、カスタマーサービスにお問い合わせください。
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